tenendo conto che la resistività é data da
dove
é la mobilità dei portatori di carica di maggioranza, si
ha che
per CdTe di tipo p si ha d
e per CdTe di tipo n si ha d
.
Per materiale di tipo n a bassa resistività gli spessori ottenibili
sono dell'ordine di 100
m.
Per materiale di tipo p ad alta resistività, si ottengono spessori
dell'ordine di 1-2 mm, che equivalgono per opacità ad 1 cm di Ge,
dato il più alto numero atomico dei componenti.
Infine accenniamo che per questo tipo di rivelatore la risoluzione energetica viene determinata da:
Il secondo effetto é legato alla bassa velocità dei portatori
di carica, ma é relativamente poco rilevante per spessori sino a
2 mm
Infine la raccolta incompleta di carica costituisce un significativo
contributo alla perdita di risoluzione energetica e quindi all'allargamento
osservato dei picchi. In particolare si osserva una notevole diversità
fra differenti rivelatori di CdTe, il che indica una distribuzione non
costante ed una disuniformità nella distribuzione dei centri di
intrappolamento.
Per questo tipo di rivelatori si può concludere che a bassa energia
la risoluzione é limitata dal rumore nel rivelatore; man mano che
l'energia aumenta, il termine che dipende dall'intrappolamento di cariche
diviene dominante, ma la sua dipendenza dall'energia cambia da rivelatore
a rivelatore.
Materiale | Gap di | Mobilità | Densità | E per coppia | Numero | |
banda | @ 300oK | (g cm-3) | buca/elettrone | atomico | ||
(eV) | (cm2 V-1 s-1) | (eV) | ||||
![]() |
![]() |
|||||
Si | 1.12 | 1430 | 480 | 2.328 | 3.61 | 14 |
Ge | 0.67 | 3900 | 1900 | 5.32 | 2.98 | 32 |
CdTe | 1.47 | 1100 | 100 | 6.06 | 4.43 | 48-52 |
HgI2 | 2.1 | 100 | 4 | 6.30 | 4.15 | 80-53 |
GaAs | 1.43 | 8500 | 420 | 5.35 | 4.27 | 31-33 |